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悉心于半導體器件電機械安全性測試方法

PL系列窄脈沖電流源測試原理及LIV測試框圖

來源:admin 時刻:2020-10-09 09:52 瀏覽記錄量:2884

普(pu)賽斯(si)PL 題材窄激(ji)光(guang)脈沖功率(lv)源可(ke)運用于 VCSEL 下列不屬于它想要窄脈沖信(xin)號激(ji)烈(lie)的測試動畫場景。

PL 產(chan)品(pin)機(ji)械設備有兩大安(an)全通道:

① 、恒流激光(guang)脈沖(chong)表揚(yang)源,并能數(shu)據同步校(xiao)正待測功率器件的兩端(duan)電阻;

② 、電(dian)磁激光(guang)(guang)瞬(shun)時電(dian)流精確檢(jian)測(ce)(ce)渠道,特(te)別選廣泛用于適用外置PD 的策略(lve)精確檢(jian)測(ce)(ce)電(dian)磁激光(guang)(guang)光(guang)(guang)熱效率;

PL 系類機器設備能導出以內(nei)五(wu)種正弦弧(hu)(hu)形:正弦弧(hu)(hu)形的高難度(du)技(ji)巧、步進電(dian)機控制值、脈寬個大概的數等均可程(cheng)控。

① 、交流電恒流;

② 、整流掃描拍攝(she)交流電;

③ 、激(ji)光脈沖電壓(ya)電流電壓(ya)電流;

④ 、電脈沖掃(sao)描拍照瞬(shun)時電流;

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采用普賽斯PL 編(bian)窄(zhai)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)智能機械(xie)(xie)行(xing)(xing)業(ye)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)LIV測量圖片(pian)設計實現(xian)測量圖片(pian)框圖如(ru)下所示:主耍有 PL 編(bian)設配、專(zhuan)用銜插頭接線處、測量圖片(pian)板(ban)、積份(fen)球(qiu)、待測脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)智能機械(xie)(xie)行(xing)(xing)業(ye)器、光(guang)(guang)吸(xi)收(shou) PD 組成。 VCSEL 脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)智能機械(xie)(xie)行(xing)(xing)業(ye)器一半輸(shu)出光(guang)(guang)效率過大,而(er) PD 的吸(xi)收(shou)效率較小,要(yao)求采用積份(fen)器實現(xian)光(guang)(guang)效率的衰減,與此(ci)同時(shi)積份(fen)球(qiu)的反(fan)射面性狀使(shi)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)智能機械(xie)(xie)行(xing)(xing)業(ye)器設計對脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)脈(mo)(mo)沖(chong)(chong)智能機械(xie)(xie)行(xing)(xing)業(ye)器光(guang)(guang)入射角并也不是更加明感(gan)。

機械傷害(hai)有如下幾種數(shu)字(zi)(zi)電(dian)(dian)磁波(bo)(bo)(bo):LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ,在這(zhe)當(dang)中 LD+ 、 LD- 為恒(heng)流源傷害(hai)鼓(gu)勵(li)數(shu)字(zi)(zi)電(dian)(dian)磁波(bo)(bo)(bo), S+ 、 S- 為待測(ce)電(dian)(dian)子器件的電(dian)(dian)壓測(ce)量(liang)數(shu)字(zi)(zi)電(dian)(dian)磁波(bo)(bo)(bo), PD+ 、 PD- 為外(wai)置 PD 測(ce)量(liang)數(shu)字(zi)(zi)電(dian)(dian)磁波(bo)(bo)(bo)。

為擔保(bao)衛(wei)星信號傷害安全性能(neng),PL 型號設施(shi)設備需要運(yun)用普賽斯私人訂制(zhi)的(de)特出連(lian)結(jie)線,間接(jie)(jie)從檢驗板到待測(ce)器材(cai)要要盡可(ke)能(neng)的(de)縮短連(lian)線,合(he)適間接(jie)(jie)將器材(cai)激光(guang)焊接(jie)(jie)于檢驗板上或運(yun)用 socket 。

為確認(ren)待測(ce)(ce)(ce)電(dian)子(zi)元件相(xiang)電(dian)壓測(ce)(ce)(ce)定的準(zhun)確度性,S+ 、 S- 是(shi)需要在(zai)待測(ce)(ce)(ce)電(dian)子(zi)元件引腳底板短接(jie)至 LD+ 、 LD- ,請一律將 S+ 、 S- 接(jie)觸至待測(ce)(ce)(ce)電(dian)子(zi)元件引腳底板,不(bu)要直接(jie)性在(zai)檢測(ce)(ce)(ce)板上(shang)私自短接(jie)。

 

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