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材料研究 材料研究

材料研究

專業深耕細作半導體芯片電性考試

源表搭建鈣鈦礦太陽能電池測試方案

種類:admin 時期:2022-08-30 09:01 預覽量:9914

一、例子業務簡紹


1.項目背景

鈣鈦(tai)礦型月(yue)亮能(neng)充(chong)(chong)電(dian)(perovskite solar cells),是使(shi)用鈣鈦(tai)礦型的(de)生物碳(tan)鋁合(he)金鹵化(hua)物半導體(ti)素材(cai)做為(wei)吸光素材(cai)的(de)月(yue)亮能(neng)充(chong)(chong)電(dian),一種(zhong)第(di)三方代月(yue)亮能(neng)充(chong)(chong)電(dian),也通稱新慨念月(yue)亮能(neng)充(chong)(chong)電(dian)。

2.項目挑戰

   傳統的手機(ji)額定負(fu)載加萬用表在測(ce)量的有效率不足;

   出(chu)口源表的小軟件生(sheng)活配套建設不建立完善。

二、鈣鈦礦板材簡紹


1.鈣鈦礦材料種類

鈣(gai)鈦(tai)礦多晶(jing)體(ti)(ti)為(wei)ABX3 構造,基本為(wei)立米體(ti)(ti)或八面體(ti)(ti)構造。

在鈣鈦礦(kuang)單晶體(ti)中(zhong),B鐵陰(yin)陽離子屬于立米(mi)(mi)晶胞(bao)的(de)中(zhong)心(xin)局(ju),被6個X鐵陰(yin)陽離子包(bao)圍(wei)著成配位立米(mi)(mi)八面體(ti),配四位數為6;

A化合(he)物地屬(shu)萬(wan)立方米晶胞的(de)角頂,被1兩個X化合(he)物尾翼成配位(wei)八(ba)面體,配十位(wei)數為12,右圖(tu) 已(yi)知,當(dang)中,A化合(he)物和(he)X化合(he)物圓弧類似,相同搭建萬(wan)立方米密(mi)堆(dui)放。



2.鈣鈦礦太陽能電池的結構與原理


(1)鈣鈦礦干電池構造與機理

典型鈣鈦礦電池結構.jpg



在做太陽隊光的(de)(de)照(zhao)射時,鈣鈦(tai)礦層(ceng)(ceng)(ceng)應當吸(xi)納激光出現智(zhi)能(neng)電商(shang)-空(kong)穴對。為了一(yi)些(xie)鈣鈦(tai)礦的(de)(de)原材料(liao)都兼具較(jiao)低(di)的(de)(de)載(zai)流子(zi)符(fu)合(he)可能(neng)和較(jiao)高的(de)(de)載(zai)流子(zi)挪(nuo)動率,以載(zai)流子(zi)的(de)(de)分散的(de)(de)距離和使用期限較(jiao)長。一(yi)些(xie)未符(fu)合(he)的(de)(de)智(zhi)能(neng)電商(shang)和空(kong)穴分別(bie)被(bei)智(zhi)能(neng)電商(shang)傳(chuan)導(dao)(dao)層(ceng)(ceng)(ceng)和空(kong)穴傳(chuan)導(dao)(dao)層(ceng)(ceng)(ceng)回(hui)收(shou),即智(zhi)能(neng)電商(shang)從鈣鈦(tai)礦層(ceng)(ceng)(ceng)傳(chuan)導(dao)(dao)到等(deng)智(zhi)能(neng)電商(shang)傳(chuan)導(dao)(dao)層(ceng)(ceng)(ceng),結果(guo)被(bei)ITO(導(dao)(dao)電夾層(ceng)(ceng)(ceng)玻(bo)璃紙(zhi)參(can)比探針(zhen)片Indium-tin oxide)回(hui)收(shou);空(kong)穴從鈣鈦(tai)礦層(ceng)(ceng)(ceng)傳(chuan)導(dao)(dao)到空(kong)穴傳(chuan)導(dao)(dao)層(ceng)(ceng)(ceng),結果(guo)被(bei)金屬制(zhi)質參(can)比探針(zhen)片回(hui)收(shou),確認(ren)無線連(lian)接FTO(導(dao)(dao)電夾層(ceng)(ceng)(ceng)玻(bo)璃紙(zhi)、Fluorine-doped tin oxide)和金屬制(zhi)質參(can)比探針(zhen)片的(de)(de)電路設計而出現光電材料(liao)流。

(2)鈣鈦礦充電制成進程

0.jpg

(3)基本特征產品鈣鈦礦電芯片

成品鈣鈦礦電池.jpg


三、計劃情況說明


1.測試要求


(1)IV操作系統


估測下(xia)面(mian)的(de)最主要的(de)參數(shu)指(zhi)標:

斷路直流電壓(ya)Uoc(Open Circuit Voltage);

出現(xian)短路直流電壓(ya)Isc(Short-circuit Current);

谷值的電壓Um;

基線電壓Im;

基線公率Pm=UmXIm;

添充指數FF;

轉變(bian)成錯誤率?=Pm(電(dian)池片(pian)最高值(zhi)最大(da)功效)XPin(院校(xiao)占地(di)入射(she)的(de)光(guang)最大(da)功效)/S(電(dian)池片(pian)的(de)占地(di))

……


(2)QE軟件系統


檢測下述包括技術參數:

光譜儀異常度;

外量子吸收率;

內量子工作效率;

折射率;

電子散射率;

積分(fen)兌換串電感應電流(liu)體積;

光柱促進電流大小

……

2.測試所需儀表

AAA級一縷(lv)陽光直曬光養成器;

規范標準多晶硅(gui)硅(gui)早上(shang)的(de)太陽(yang)電(dian)(dian)池充電(dian)(dian)(我(wo)國的(de)測(ce)量科研院(yuan)測(ce)定);

普賽斯S300源表;

樣品管理(li)檢測(ce)器臺(tai)還(huan)訂制(zhi)工裝夾(jia)具;

IV測試工(gong)具(ju)闡述(shu)工(gong)具(ju);

3.典型測試指標

典型測試指標.jpg


4.選型依據

電(dian)(dian)流大(da)小(xiao)值(zhi)示值(zhi)及精確(que)度;電(dian)(dian)流大(da)小(xiao)示值(zhi)及精確(que)度;

采集速(su)率(lv)單(dan)位高;IV測驗研究軟文(wen)工作;


四、常見技術問題匯總FQA


1. 與傳統電子負載和萬用表測量方案的區別?

源(yuan)表(biao)模塊化(hua)源(yuan)與表(biao)于合(he)二為(wei)一,模塊化(hua)度就越高,從(cong)硬(ying)件PCapp過(guo)來(lai)說接口方式細則,有RS232、GPIB和LAN口,更適 合(he)化(hua)學實(shi)驗室(shi)室(shi)和自動式化(hua)公測線的應運。從(cong)PCapp過(guo)來(lai)說,指令碼集的細則化(hua)層度就越高,串口通信PCapp激發更容(rong)易。

2.與進口源表相比有哪些優勢?

普賽斯的S品類源表全對標學習吉時利2400,可檢測(ce)的電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流(liu)量區間更寬(kuan)。app軟件上不光(guang)打造信息 集,還扶持C++和(he)Labview的SDK包,更有助測(ce)試(shi)儀模式的集成(cheng)式。

3.普賽斯源表可以應用于鈣鈦礦哪些測試領域?

普賽斯的S系列作(zuo)品源表(biao)就(jiu)能夠應該(gai)用(yong)于(yu)科(ke)研項目、教育教學(xue)的科(ke)學(xue)試驗系統的,也就(jiu)能夠應該(gai)用(yong)于(yu)產線會智能化以及自動化測(ce)試英文。



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